應用材料公司推出精密的3D電晶體

應用材料公司為其市場領先的SEMVision™ 系列推出一套最新缺陷檢測及分類技術,加速達成10奈米及以下的頂尖晶片生產良率。Applied SEMVision G6缺陷分析系統結合前所未有高解析度、多維影像分析功能,及革命性創新的Purity™ 自動化缺陷分類(Automatic Defect Classification; ADC)系統高智能的機器學習演算法,樹立了全新的效能標竿,同時為半導體產業引進首創缺陷檢測掃瞄電子顯微鏡(DR SEM)技術。


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